Górecki K., Wilamowski B.: Propagacyjny przetwornik analogowo-cyfrowy. Krajowe Sympozjum Telekomunikacji KST’88, Bydgoszcz 1988, t. B, ss. 158-165.
Zarębski J., Górecki K.: Statyczna metoda pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego. XV Seminarium z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów SPETO’92, Wisła 1992, t. 1, ss. 395-403.
Zarębski J., Górecki K.: The Simple Method of the Bipolar Transistor Transient Thermal Impedance Measurement. Proc. Int. AMSE Conf., Kalkuta (Indie) 1992, Vol. 3, pp. 207-214.
Zarębski J., Górecki K.: Pomiar rezystancji termicznej elementów półprzewodnikowych z wykorzystaniem systemu mikrokomputerowego. Sympozjum "Podstawowe Problemy Energoelektroniki i Elektromechaniki" PPE V, Ustroń 1993, ss. 463-469.
Zarębski J., Górecki K.: Mikrokomputerowy system pomiarowy do wyznaczania rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego. Pomiary, Automatyka, Kontrola, Nr 9, 1993, ss. 209-212.
Zarębski J., Górecki K.: System mikrokomputerowy do pomiaru rezystancji termicznej elementów półprzewodnikowych metodami impulsowymi. XXV Międzyuczelniana Konf. Metrologów MKM’93, Gliwice - Ustroń 1993, ss. 357-364.
Zarębski J., Górecki K.: Thermal Transients in Bipolar Transistors; Measurements and Simulations. Int. Conf. on Information, Systems Methods Applied to Engineering Problems, Malta 1993, Vol. 2, pp. 111-120.
Zarębski J., Górecki K.: Wybrane problemy stałoprądowej analizy obwodów tranzystorowych w obecności oddziaływań elektrotermicznych. Zeszyty Naukowe WSM w Gdyni, Gdynia 1993, Nr 25, ss. 86-130.
Zarębski J., Górecki K.: Symulacja oddziaływań elektrotermicznych w układach tranzystorowych za pomocą programu SPICE. XVII Seminarium z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów SPETO’94, Wisła 1994, Vol. 2, ss. 407-413.
Zarębski J, Górecki K.: Pomiar rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego metodą impulsową z przełączaniem kierunku polaryzacji złącza. XXVI Międzyuczelniana Konf. Metrologów MKM’94 , Zesz. Nauk. WSI w Opolu, Nr 203, Elektryka, z.40, t. II, Opole 1994, ss. 147-154.
Zarębski J., Górecki K.: System mikrokomputerowy do pomiaru parametrów termicznych elementów półprzewodnikowych. IX Kraj. Konf. Naukowo-Techniczna "Zastosowanie mikroprocesorów w automatyce i pomiarach", Warszawa 1994, ss. 117-122.
Górecki K., Zarębski J., Stepowicz W.J.: Elektryczna i elektrotermiczna analiza układów elektronicznych. VI Sympozjum "Podstawowe Problemy Energoelektroniki i Elektromechaniki" PPEE, Ustroń 1995, ss.47-52.
Zarębski J., Górecki K.: A Method of the BJT Transient Thermal Impedance Measurement with the Double Junction Calibration. Proc. 11-th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), San Jose (USA) 1995, pp.80-82.
Zarębski J., Górecki K.: D.C. Electrothermal Hybrid BJT Model for SPICE. Proc. VI Int. Conf. Simulation of Semiconductor Devices and Processes - SISDEP'95, Erlangen (RFN) 1995, Vol. 6, pp. 306-309.
Zarębski J., Górecki K.: Nowa metoda pomiaru rezystancji szeregowych tranzystora bipolarnego. XXVII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów MKM’95, Zielona Góra 1995, t. 2, ss. 456-459.
