Stepowicz W.J., Zarębski J., Górecki K.: Wpływ warunków chłodzenia na wzmocnienie napięciowe wzmacniacza tranzystorowego, XIX Seminarium z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów SPETO’96, Ustroń 1996, Vol. 2, ss. 439-442.
Stepowicz W.J., Zarębski J., Górecki K.: Thermal Performance of the Selected Monolitic and Hybrid Circuits. XX ISHM-Poland Chapter Annual Conference and Exhibition, Jurata 1996, s. 98.
Zarębski J., Górecki K., Stepowicz W.J.: Zagadnienia termiczne w pracach badawczych zespołu modelowania elementów półprzewodnikowych i analizy układów elektronicznych. I Seminarium Zagadnienia Termiczne w Elektronice TERMIK’96, Szklarska Poręba 1996, ss. 25-30.
Górecki K., Zarębski J.: Układ do automatycznego pomiaru stałoprądowych nieizotermicznych charakterystyk wybranych elementów półprzewodnikowych. XXVIII Międzyuczelniana Konf. Metrologów MKM’96, Częstochowa 1996, t. 1, ss. 192-197.
Górecki K., Zarębski J.: Układ do pomiaru małosygnałowych nieizotermicznych parametrów tranzystora bipolarnego. X Konferencja Naukowo-Techniczna „Zastosowanie mikroprocesorów w automatyce i pomiarach”, Warszawa 1996, t. 1, ss. 250-253.
Górecki K., Zarębski J.: The Circuit to Measure the Small Signal Nonisothermal Parameters of the BJT. X Polish National Conference „Application of Microprocessors in Automatic Control and Measurements”, Warszawa 1996, Vol. 2, pp. 126-127.
Stepowicz W.J., Zarębski J., Górecki K.: Electrothermal A.C. Large-Signal Model of the PN Diode, Podstawowe Problemy Energoelektroniki i Elektromechaniki PPEE’97, Ustroń-Jaszowiec 1997, ss. 347-350.
Górecki K., Zarębski J.: System komputerowy do automatycznej identyfikacji parametrów elektrotermicznego modelu tranzystora bipolarnego, II Konferencja Naukowo-Techniczna Zastosowanie Komputerów w Elektrotechnice ZKwE’97, Kiekrz-Poznań 1997, ss. 269-272.
Zarębski J., Górecki K., Stepowicz W.J.: Wpływ sposobu zamocowania tranzystora na jego rezystancję termiczną, VI Konferencja Naukowa „Technologia Elektronowa” ELTE’97, Krynica 1997, t. 1, ss. 708-712.
Zarębski J., Górecki K., Stepowicz W.J.: Problemy występujące w elektrotermicznej analizie układów elektronicznych za pomocą programu SPICE, XX Seminarium z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów SPETO’97, Ustroń 1997, t. 2, ss. 371-374.
Górecki K., Zarębski J., Stepowicz W.J.: Problems of the Thermal Resistance Measurements of the Power Darlington Transistor, 4th International Workshop Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES’97, Poznań 1997, pp. 271-275.
Zarębski J., Górecki K.: D.C. Electrothermal Hybrid Model of P-N Diode for SPICE, IEEE International Symposium on Circuits and Systems ISCAS’97, Hong Kong 1997, Vol. III, pp. 1612-1615.
Stepowicz W.J., Zarębski J., Górecki K.: Electrothermal Macromodel of the Power Darlington Transistor, 1997 European Conference on Circuit Theory and Design - ECCTD’97, Budapest 1997, Vol. 1, pp. 191-195.
Górecki K., Zarębski J.: Zastosowanie metody z podwójną kalibracją charakterystyki termometrycznej do pomiaru przejściowej impedancji termicznej tranzystora MOS, XXIX Międzyuczelniana Konferencja Metrologów MKM’97, Nałęczów 1997, t. 1, ss. 161-164.
Zarębski J., Górecki K., Stepowicz W.J.: Simulations of Electrothermal Transients in the Darlington Power Transistor, Third International Scientific and Technical Conference on Unconventional Electromechanical and Electrical Systems (UEES'97), Alushta (Ukraina) 1997, Vol. 2, pp. 721-726.
Stepowicz W.J., Zarębski J., Górecki K.: Thermal Performance of the Selected Monolitic and Hybrid Circuits, Proceedings of the 20-th ISHM Poland, Jurata Sept. 15-18, 1996, International Society for Hybrid Microelectronics Poland Chapter, Wrocław 1997, pp. 263-266.
Górecki K., Zarębski J., Stepowicz W.J.: Influence of Mounting on the Thermal Resistance of Selected Microcircuits, XXI ISHM-Poland Chapter Annual Conference and Exhibition, Ustroń, 1997, p. 63.
